1.
Denumirea echipamentului
MICROSCOP DE BALEIAJ CU SONDA, JEOL JSPM 4210 MICROSCOPIE DE FORTA ATOMICA
SI MICROSCOPIE
DE TUNELARE
Nume de catalog : JEOL JSPM 4210
Producator: JEOL Ltd. Japonia.
Tip echipament: echipament strategic
AFM- STM: JSPM 4210
2. Anul echipamentului: 2004
3. Caracteristici tehnice / performante:
microscopie de forta atomica AFM AC mode, Contact mode, Non-contact mode
imaging mode la rezolutie micro si nanostructurala
moduri speciale de scanare: magnetic AFM, conductive AFM
investigari de proprietati mecanice la nivel nano (nano-mecanica) si curbe
de forta
microscopie de tunelare STM
adaptare celula de investigatii in mediu fluid
investigare la arii mici ,,narrow area scanning
unitate de investigare a visco elasticitatii
Caracteristici dimensionale investigare probe:
In mod curent se pot investiga probe cu dimensiunile gabaritice maxime: 20 X 50 X 2.5 mm
Caracteristici maxime de investigare pe suprafaţa probelor: - suprafata
maxima 20 μm x 20 μm;
cursa maxima pe axa z 4 μm.
Softuri specifice:
Win SPM scanning softul specializat pentru obtinerea
imaginilor
Win SPM processing softul specializat de prelucrare si analiza a
imaginilor AFM.
Softurile permit analize ale suprafetei probei, rugozitate, detalii de
profil, analiza de distributie a particulelor.
4. Domenii de activitate:
Morfologia nanobiomaterialelor avansat procesate
Imagistica pe filme subtiri de nanoparticule
Caracteristicile de suprafata ale scafoldurilor: rugozitate,
Profil de sectiuni transversale prin filme subtiri, distributia de
nanoparticule
Proprietati de material visco elasticitate
Nano-mecanica si curbe de forta
Celule si membrane celulare; Biofizica medicamentului
Auto asamblari moleculare- filme Langmuir-Blodgett (LBT)
Morfologia biocompozitelor
Calitatea materialelor prin imagistica AFM si STM
5. Persoane de contact:
Conf. Univ. Dr. Aurora Mocanu,
aurora.mocanu@ubbcluj.ro
Dr. Ing. Petean Ioan, Asistent de cercetare
|