1. Denumirea echipamentului
MICROSCOP DE BALEIAJ CU SONDA, JEOL JSPM 4210 – MICROSCOPIE DE FORTA ATOMICA

SI MICROSCOPIE DE TUNELARE
Nume de catalog : JEOL JSPM 4210
Producator: JEOL Ltd. Japonia.
Tip echipament: echipament strategic

             AFM- STM: JSPM 4210

2. Anul echipamentului: 2004

3. Caracteristici tehnice / performante:
• microscopie de forta atomica AFM – AC mode, Contact mode, Non-contact mode
• imaging mode la rezolutie micro si nanostructurala
• moduri speciale de scanare: magnetic AFM, conductive AFM
• investigari de proprietati mecanice la nivel nano (nano-mecanica) si curbe de forta
• microscopie de tunelare STM
• adaptare celula de investigatii in mediu fluid
• investigare la arii mici ,,narrow area scanning”
• unitate de investigare a visco elasticitatii

Caracteristici dimensionale investigare probe:
• In mod curent se pot investiga probe cu dimensiunile gabaritice maxime: 20 X 50 X 2.5 mm
• Caracteristici maxime de investigare pe suprafaţa probelor: - suprafata maxima 20 μm x 20 μm;
• cursa maxima pe axa z 4 μm.

Softuri specifice:

• Win SPM scanning – softul specializat pentru obtinerea imaginilor
• Win SPM processing – softul specializat de prelucrare si analiza a imaginilor AFM.
• Softurile permit analize ale suprafetei probei, rugozitate, detalii de profil, analiza de distributie a particulelor.

4. Domenii de activitate:
• Morfologia nanobiomaterialelor avansat procesate
• Imagistica pe filme subtiri de nanoparticule
• Caracteristicile de suprafata ale scafoldurilor: rugozitate,
• Profil de sectiuni transversale prin filme subtiri, distributia de nanoparticule
• Proprietati de material – visco elasticitate
• Nano-mecanica si curbe de forta
• Celule si membrane celulare; Biofizica medicamentului
• Auto asamblari moleculare- filme Langmuir-Blodgett (LBT)
• Morfologia biocompozitelor
• Calitatea materialelor – prin imagistica AFM si STM

5. Persoane de contact:
Conf. Univ. Dr. Aurora Mocanu, amocanu@chem.ubbcluj.ro
Asist. Cercet. Dr. Ing. Petean Ioan